プロトによるX線回折技術の解説
プロト（以下、同社）では、残留応力を測定する際に最も正確性の高いX線回折法を用いています。X線回折は、現在、唯一の非破壊検査方法で、残留応力の結果を正確に数値化できます。同社の高速X線検出技術はセラミックや金属（従来から問題のある金属、たとえば、ショットピーニングされたチタン等）に対して容易に測定する事が出来ます。
既存する金属の中に応力状態が作用している場合は残留応力や作用応力は、結晶格子面間隔の距離を広げたり縮めたりします。正しくは結晶格子面間隔dで表します。
では、どの様に応力を計測するのでしょうか。同社では、ひずみゲージのように結晶格子面間の距離を測定して、応力を測定します。結晶格子面間隔(d)はブラッグの法則を用いて計算します。